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FZ-5202 -
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2025-08-14 -
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產品描述
日本新品AND艾安得 FZ-5202精密分析天平 日本新品AND艾安得 精密分析天平 低水分含量測量，可讀性為 10 ppm (0.001%)（MS-70） 采用鹵素燈和創新的二次輻射輔助 (SRA) 技術實現快速均勻加熱 使用酒石酸鈉二水合物進行精度驗證（MS-70、MX-50 和 MF-50 的標準配置）
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